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高精度時序仿真分析工具

ICExplorer-XTime

       時序是表征數字芯片功能、性能的最重要指標。在數字電路設計中存在著海量的時序路徑。為了保證芯片功能正確,性能達到預期,需要對電路中的時序路徑進行時序分析。目前時序分析的手段主要有靜態時序分析和高精度時序仿真分析。
       靜態時序分析具有速度快、內存少、可窮盡等特點,被廣泛的應用于數字集成電路設計中。但對于先進工藝或低電壓設計,靜態時序分析存在著很多的局限,例如在先進工藝或者低電壓情況下,工藝偏差會呈現出非高斯分布現象,這對建立在以高斯分布假設為基礎上的靜態時序分析技術產生了巨大影響,導致時序計算的精度無法適應高精度時序分析的需求。同時,先進工藝下時序敏感性、老化等引起的時序問題對電路設計的可靠性提出了巨大挑戰,而傳統的靜態時序分析方法無法有效的解決這些問題。相比靜態時序分析方法,在先進工藝或低電壓設計條件下,時序仿真分析方法的優勢逐步顯現,通過對關鍵時序路徑進行仿真不僅可以更精確的評估電路時序情況,還能快速分析電路的時序敏感性和仿真電路的老化效應等,這種分析手段不僅突破了靜態時序分析方法的局限,也更加適應和符合先進工藝及低電壓設計條件下的時序分析需求。
       ICExplorer-XTime
®為用戶提供了面向先進工藝和低電壓設計的高精度時序仿真分析方案,有效的解決了先進工藝和低電壓設計靜態時序分析方法無法準確評估時序和設計可靠性的難題。該工具提供了高精度時序仿真校驗功能、電壓/溫度敏感性分析功能、快速工藝偏差分析功能和老化仿真分析功能等,為電路時序可靠性分析提供了重要支撐。

 

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  • 高精度時序仿真分析工具 ICExplorer-XTime datasheet
  • 【數字電路時序老化效應分析】
  • 【跨電壓域路徑的高精度時序分析】
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